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机译:使用通用测试应用方案提高基于扫描的BIST的测试质量
Huan-chih Tsai; Kwang-ting Cheng; Sudipta Bhawmik;
机译:关于提高基于扫描的BIST的测试质量
机译:基于扫描的BIST的RTL VHDL规范中的可测性分析和测试点插入
机译:通过扫描链划分提高基于扫描的BIST的测试有效性
机译:用于基于扫描的统计时序缺陷测试的成本降低和测试质量控制。
机译:韩国外部质量评估(KEQAS)协会的计划和绩效评估标准改进实验室检测
机译:基于扫描逻辑BIST的正确功率测试的灵活功率控制方法
机译:使用通用测试应用方案提高基于扫描的BIST的测试质量的方法和系统
机译:具有非扫描测试能力和测试应用成本的经济高效的扫描架构和测试应用方案,用于进行扫描测试
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